固緯LCR測(cè)試儀測(cè)量回路的幾個(gè)方法
更新時(shí)間:2023-02-13 點(diǎn)擊次數(shù):608次
固緯LCR測(cè)試儀是一種采用交流方式測(cè)量電感、電容、電阻、阻抗等無(wú)源元件參數(shù)的裝置。由一臺(tái)主機(jī)和若干測(cè)試夾具組成,具有自動(dòng)電平控制功能,能夠在很寬的頻率范圍和電平范圍內(nèi)對(duì)被測(cè)件的電阻、電容、電感等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量和分析。阻抗測(cè)量基本準(zhǔn)確度為0.1%。配上大電流源后還可以進(jìn)行電感的偏置電流特性測(cè)試。用來(lái)測(cè)量元器件的參數(shù)時(shí),其關(guān)鍵問(wèn)題是測(cè)量誤差。它的誤差來(lái)源主要有兩部分,首先是LCR測(cè)試儀本身的內(nèi)部誤差,其次是由不正確校準(zhǔn)、測(cè)試件的連接方法及不正確選擇測(cè)量電路模型引起的。
固緯LCR測(cè)試儀測(cè)量回路的方法:
二端子法:
和被測(cè)物是以二端子來(lái)接觸的構(gòu)造。測(cè)量值是包含了配線電阻和接觸電阻的結(jié)果,當(dāng)被測(cè)物為低阻抗時(shí)影響會(huì)更大。而且,線間存在雜散電容,因此高頻下測(cè)量或高阻抗測(cè)量時(shí),測(cè)量信號(hào)不光會(huì)流過(guò)被測(cè)物也會(huì)流過(guò)雜散電容,從而產(chǎn)生誤差。
四端子對(duì)法:
降低由測(cè)試電流引起的磁場(chǎng)影響,是一種能夠降低低阻抗到高阻抗測(cè)量中產(chǎn)生誤差的方式。通過(guò)利用電纜的絕緣層并將正向電流和反向電流相疊加,可以消除所產(chǎn)生的磁場(chǎng)。
五端子法:
由于信號(hào)電流用電纜和電壓檢測(cè)用電纜是獨(dú)立分開的,因此可以降低配線電阻或接觸電阻的影響。而且,通過(guò)使用帶屏蔽層的電纜,讓屏蔽層之間的電位相同來(lái)降低雜散電容的影響。是一種能夠降低低阻抗還是高阻抗測(cè)量中產(chǎn)生誤差的方式。